光伏检测与分析-012

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一 、单选题

1. 用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（ ）为宜。

30～50℃

40～60℃

50～70℃

60～80℃

答案：B
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2. 用冷热探笔法测量（ ）半导体时，冷端带正电，热端带负电。

P型

N型

PN型

以上皆不是

答案：A
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3. 硅晶体中，氧的分凝系数（ ）1，碳的分凝系数（ ）1。

大于 小于

大于 大于

小于 小于

小于 大于

答案：A
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4. 光图定向法结果直观，操作（ ），误差（ ）。

简单 较大

复杂 较大

简单 较小

复杂 较小

答案：A
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5. 双光束光栅红外分光光度计，测碳的分辨率应不大于（ ）。

4cm-1

3cm-1

2cm-1

1cm-1

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6. 以下表示晶面指数最恰当的是（ ）。

（664）

（463）

（333）

（246）

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7. 直拉单晶中氧含量头部与尾部相比（ ）。

较高

相同

较低

无法判断

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8. 晶面指数最低的晶面总是具有（ ）的晶面间距。

最小

相等

最大

无法判断

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9. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

液氮低温冻伤

潜在氢气泄露引起的爆炸

温度过高

没有明显危险源

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10. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

液氮低温冻伤

潜在氢气泄露引起的爆炸

温度过高

没有明显危险源

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11. RO反渗透技术是利用（ ）为动力的膜分离过滤技术。

吸附力

离子交换

电力

压力差

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12. 制取高纯水时一般采用（ ）交换树脂和（ ）交换树脂。

强酸型阳离子 强碱型阴离子

强碱型阴离子 强酸型阳离子

强酸型阳离子 强酸型阴离子

强碱型阳离子 强碱型阳离子

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13. 树脂失效表明离子交换树脂可供交换的（ ）大为减少。

CL-

Na

H+和OH-

Ca

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14. 纯水是电阻率达到（ ）左右的水。

8

9

10

11

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15. 漩涡缺陷是晶体中（ ）的局部聚集。

点缺陷

线缺陷

面缺陷

微缺陷

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16. 露点法测定气体中的水分时，本岗位存在的危险源是（ ）。

液氮低温冻伤

潜在氢气泄露引起的爆炸

温度过高

没有明显危险源

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17. （ ）是影响硅器件的成品率的一个重要因素，也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。

点缺陷

线缺陷

面缺陷

微缺陷

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18. 放射线同位素的量越多，放出的γ射线的强度（ ）。

越小

不变

越大

随机变化

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19. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

±10'

±15'

±20'

±30'

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20. X射线定向法的误差可以控制在（ ）范围内，准确度高。

±10'

±15'

±20'

±30'

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二 、多选题

1. 半导体硅的常用腐蚀剂主要有（ ）。

Sirtl腐蚀液

Dash腐蚀液

Wright腐蚀液

Shimmel腐蚀液

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2. 用接触法测量半导体单晶电阻率的方法主要有（ ）。

两探针法

四探针法

扩展电阻法

范德堡法

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3. X射线的衍射法精确度高，它受以下（ ）因素影响。

X射线束的发散性

X射线束准直性

转角鼓轮读数轮刻度的精度

天气温度

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4. 在立方晶系中，晶面和晶面间的夹角为（ ）。

0°

30°

60°

90°

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5. 某样品受到红外线照射时，会产生以下（ ）现象。

反射

折射

吸收

透过

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三 、问答题

1. 简述离子交换法制备纯水交换、再生过程。

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2. 简述用分析法对三氯氢硅中痕量杂质的化学光谱测定的方法原理。

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3. 简述在立方晶系中，一个晶面的晶面指数是如何决定的。

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四 、配伍题

1. 将下列三氯氢硅中硼的分析试剂一一对应。

10mΩ以上的离子交换水

纯水

优级纯氢氟酸，在用自制的聚乙烯蒸馏器蒸馏一次

氢氟酸

Be标准液

2.5µgBe/mL

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2. 将下列活性炭过滤器工作原理一一对应。

向下穿过过滤料层，经下布水器收集返回中心管。

反洗

原水由进水口进入控制阀，从阀芯的上部经阀体内，并由顶部进入罐体

运行

正洗

水从底部进入活性炭过滤层后由上部排出

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3. 硅中氧和硅原子之间组成非线性Si-O-Si模型，请将以下关系一一对应。

硅原子向氧原子运动，振动频率1205 cm-1

硅-氧键的对称伸张振动

硅-氧键的弯曲振动

硅原子偏离赤道面，振动频率515 cm-1

硅原子沿硅-氧键的方向运动，振动频率1105 cm-1

硅-氧键的反对称伸张振动

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4. 将下列质谱分析造成其误差较高的因素与原因一一对应。

杂质不均匀

与元素本身性质、样品中元素的选择及离子源火花条件有关

因为质谱分析一次只消耗少量样品，不能代表整个样品杂质含量

各元素电离效率

谱线黑度

受到很多因素，如离子质量影响

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5. 将以下X射线定向仪主要构成部分一一对应。

吸盘

X射线发生部分

X射线检测部分

X射线管

样品台

盖革计数管和计数时率计

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